تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۳ پاسخ تکراری در مدت زمان ۳,۸۹ ثانیه یافت شد.

1. Neural models and algorithms for digital testing

پدیدآورنده : by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell

موضوع : Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است