نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۳ پاسخ تکراری در مدت زمان ۲,۰۹ ثانیه یافت شد.
1. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده :
by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
موضوع :
Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
»
1
«
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد